美國DAKOTA MMX-7超聲波測厚儀
特點
- 100MHz FPGA時序電路設計
- 1/8英寸VGA灰色顯示，240x160象素屏幕，25Hz刷新頻率
- 手動或自動增益控制，根據(jù)測量模式選擇(50dB增益范圍)
- 內(nèi)置于探頭類型中的線性時間相關增益(TDG)
- B-掃描和大數(shù)字顯示方式
- 脈沖-回波(P-E)測量模式和回波-回波(E-E)測量模式
- 雙晶探頭
- 內(nèi)置4GB SD卡
- 通過USB Type-C連接的計算機

美國DAKOTA MMX-7超聲波測厚儀
技術參數(shù)
測量
脈沖-回波(P-E)模式測量范圍：0.63mm～30.48m(鋼)
回波-回波(E-E)模式測量范圍：2.54～152.4mm(鋼，穿過涂層測量，隨涂層厚度的不同，測量范圍也會變化)
分辨率：0.01mm
聲速范圍：309.88～18542m/s
單位：公制或英制
校準：一點和兩點校準方式

顯示
顯示屏：1/8英寸VGA灰色顯示，240x160象素。可視區(qū)62x45.7mm，EL背光
大數(shù)字方式：標準厚度顯示，數(shù)字高度17.78mm
B-掃描方式：基于時間的橫截面視圖。 顯示速度為每秒10到200個讀數(shù)
厚度條形掃描：速度10Hz，在B-掃描和大數(shù)字顯示中可見
穩(wěn)定度指示：表示測量值的穩(wěn)定性

超聲波參數(shù)
測量模式：脈沖-回波(P-E)模式，回波-回波(E-E)模式(穿過涂層)
脈沖：150V方波脈沖發(fā)生器
接收：根據(jù)選擇模式在50dB范圍內(nèi)采用手動或AGC增益控制
計時：單次100MHz8位超低功耗數(shù)字化儀的精準TCXO計時

探頭
頻率范圍：1~10MHz
雙晶探頭
LEMO接口，1.2米探頭線
可定制用于特殊應用的探頭

存儲
容量：內(nèi)置4GB SD卡
數(shù)據(jù)結(jié)構：網(wǎng)格(字母數(shù)字)
屏幕捕獲：位圖圖形捕獲，用于快速記錄
數(shù)據(jù)輸出：通過USB Type-C連接的計算機

功能
設置：64個用戶定義設置，用戶也可編輯出廠設置
探頭類型可選：內(nèi)置雙路誤差校正，提高線性度
報警模式：上下限視聽報警
快速掃描模式：每秒250個讀數(shù)，當探頭離開時顯示*小值

其他
鍵盤：12個觸摸鍵
電源：標配為三節(jié)5號堿性電池 ，可選鎳鎘電池或鋰電池。電量狀態(tài)指示。無操作五分鐘后自動關機。USB Type-C供電
外殼：擠壓鋁機殼，底蓋用鍍鎳鋁板加密封墊封裝
工作溫度：-10～60℃
尺寸：63.5x165x31.5mm
重量：含電池385g
包裝：ABS工程塑料箱
出廠證書：工廠校準可追溯到NIST和MILSTD- 45662A標準

常用探頭：

型號	頻率	探頭晶片直徑	探頭防磨面直徑	測量范圍	說明
PT-102-2700	5.0MHz	6.35mm	9.53mm	1.0～152mm	標準高阻抗探頭
PT-101-2700	5.0MHz	4.76mm	6.35mm	1.0～50mm	小管徑高阻抗探頭
PT-101-2000	5.0MHz	4.76mm	6.35mm	1.0～50mm	小管徑探頭
PT-104-0000	1.0MHz	12.7mm	15.88mm	3.8～50.8mm(鑄鐵中)	鑄鐵探頭
PT-104-9700	3.5MHz	12.7mm	15.88mm	2.5～100mm    穿透測量3.2~100mm    涂層厚度*大可達1.9mm	大范圍高阻抗探頭
PT-102-3300	7.5MHz	6.35mm	9.53mm	0.63～152mm	超薄探頭
PT-104-2700	5.0MHz	12.7mm	15.88mm	1.27～508mm	超厚高阻抗探頭
PT-104-2000	5.0MHz	12.7mm	15.88mm	1.27～508mm	超厚探頭
PT-042-2700	5.0MHz	6.35mm	9.53mm	1.0～152mm	標準高溫高阻抗探頭，*高340℃
PT-042-2000	5.0MHz	6.35mm	9.53mm	1.0～152mm	標準高溫探頭，*高340℃
PT-044-2700	5.0MHz	12.7mm	15.88mm	1.27～508mm	超厚高溫高阻抗探頭，*高340℃
PT-044-2000	5.0MHz	12.7mm	15.88mm	1.27～508mm	超厚高溫探頭，*高340℃
PT-212-2001	5.0MHz	6.35mm	9.53mm	1.0～152mm	超高溫探頭，*高480℃
PT-214-2001	5.0MHz	12.7mm	15.88mm	1.27～508mm	超厚超高溫探頭，*高480℃

 注：測試高溫表面時需用高溫耦合劑